Meta Analitik Çözümler, 2017 yılında bu alanda 15 yıldan uzun deneyimimizi sizinle paylaşmak, mevcut teknolojilere yenilikçi yaklaşımlar üreten, kendi iş alanında dünya lideri firmalarla işbirliği yapmak üzere kurulmuştur. Tecrübe ederek öğrendiğimiz sorunlarınız çözüm bulmayı hedefleyerek farklı teknolojileri sizlere sunmak istiyoruz.

JEOL Elektron Mikroskop Örnek Hazırlama Sistemi

Kategori: JEOL Elektron Mikroscope &JEOL NMR

Ürün Bilgisi

JEOL Elektron Mikroskop Örnek Hazırlama Sistemi

CROSS SECTION POLISHER™ (CP), elektron mikroskobu için bir numunenin enine kesitini hazırlamak için kullanılan bir cihazdır. İyon ışını ile kesit hazırlandığı için polisaj gibi tecrübe gerektiren diğer yöntemlere göre bireysel farklılıklar olmaksızın daha kısa sürede ve kalitede kesit elde etmek mümkündür.

İşlevsel tutucuların seçilmesi, yalnızca enine kesit frezeleme değil aynı zamanda düzlemsel iyon öğütme ve iyon ışını püskürtmeli kaplama işlevlerini genişletmeyi mümkün kılar. Termal olarak değişken bir numuneyi işlemek için bir soğutma tipi CP de mevcuttur.