×

Hakkımızda

 Meta Analitik Çözümler, 2017 yılında bu alanda 15 yıldan uzun deneyimimizi sizinle paylaşmak, mevcut teknolojilere yenilikçi yaklaşımlar üreten, kendi iş alanında dünya lideri firmalarla işbirliği yapmak üzere kurulmuştur.  Tecrübe ederek öğrendiğimiz sorunlarınız çözüm bulmayı hedefleyerek farklı teknolojileri sizlere sunmak istiyoruz.

FIB Odaklı İyon Demeti

Odaklanmış bir iyon ışını sistemi, gözlem sırasında yüksek hızda ve yüksek hassasiyette bir iyon ışını kullanarak bir numuneyi öğütmek için kullanılan bir araçtır. Otomatik öğütme ve 3D analiz ile transmisyon elektron mikroskobu (TEM) için numune hazırlamak mümkündür.

Taramalı elektron mikroskobu (SEM) ile donatılmış çok ışınlı bir sistem, bir dedektör takılarak çeşitli analizler yapabilir.