×

Hakkımızda

 Meta Analitik Çözümler, 2017 yılında bu alanda 15 yıldan uzun deneyimimizi sizinle paylaşmak, mevcut teknolojilere yenilikçi yaklaşımlar üreten, kendi iş alanında dünya lideri firmalarla işbirliği yapmak üzere kurulmuştur.  Tecrübe ederek öğrendiğimiz sorunlarınız çözüm bulmayı hedefleyerek farklı teknolojileri sizlere sunmak istiyoruz.

JEOL EPMA- Elektron Probe Mikroanalizör

Yüzey dokularının ve morfolojisinin gözlemlenmesine ve yerel iz element analizine olanak sağlar. Dalga boyu dağılımlı X-ışını spektrometresi (WDS) ve yumuşak X-ışını spektrometresi (SXES) gibi dedektörlerin kullanımı, taramalı elektron mikroskobu (SEM) ile kullanılan enerji dağılımlı dedektöre (EDS) göre daha ayrıntılı ölçüm sonuçları elde edebilir.

JEOL, dünyada yumuşak X-ışını spektrometresini önerebilen tek üreticidir.