×

Hakkımızda

 Meta Analitik Çözümler, 2017 yılında bu alanda 15 yıldan uzun deneyimimizi sizinle paylaşmak, mevcut teknolojilere yenilikçi yaklaşımlar üreten, kendi iş alanında dünya lideri firmalarla işbirliği yapmak üzere kurulmuştur.  Tecrübe ederek öğrendiğimiz sorunlarınız çözüm bulmayı hedefleyerek farklı teknolojileri sizlere sunmak istiyoruz.

JEOL SEM-Scanning Elektron Mikroskop

Taramalı elektron mikroskopları (SEM) ve yüzey gözlemi ve analizi için çok sayıda ataşmanı, dünyadaki Ar-Ge enstitülerinde ve kalite test tesislerinde en aktif araçlardan biridir.

JEOL, özel bilgi ve teknikler olmadan herkesin çalışmasına izin veren tezgah üstü tip de dahil olmak üzere genel amaçlı taramalı elektron mikroskoplarından (W-SEM), alan emisyonlu taramalı elektron mikroskoplarının (FE-SEM) üst düzey modellerine kadar geniş bir ürün yelpazesi sunabilir.

Ayrıca, elemental analiz için kullanılan enerji dağılımlı X-ışını spektrometreleri (EDS) de şirket içinde geliştirilmektedir.